- 產(chǎn)品型號:SN74BCT8374ADW
- 制 造 商:TI(德州儀器)
- 出廠封裝:24-SOIC
- 功能類別:專用邏輯芯片
- 功能描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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TI德州儀器公司完整型號:SN74BCT8374ADW
制造廠家名稱:Texas Instruments
描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
系列:74BCT
邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器
電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
位數(shù):8
工作溫度:0°C ~ 70°C
安裝類型:表面貼裝
封裝/外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
供應(yīng)商器件封裝:24-SOIC